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DR探測器的分類有哪些

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DR探測器的分類有哪些

發布日期:2019-03-20 作者: 點擊:

DR技術的進步一直都是與平板探測器技術的發展緊密相連的。平板技術發展主要體現在:動態反應時間和尺寸的大小、像素間距、MTF、DQE等方麵。根據探測器的工作原理和組成材料的不同,DR探測器的分類主要有三種:CCD、一線掃描和非晶體平板也就是香蕉视频app污搜索所說的X光平板探測器。

便攜式DR數字成像.jpg

CCD:

因為存在著一定的物理局限性,普遍認為CCD並不能夠勝任大麵積平板的采像工作,而且CCD設備在所采集的圖像的質量上與非晶矽/硒平板設備差上一段距離。不過因為CCD的價格優勢,在世界範圍內仍然有廠家在使用著這種技術。

一線掃描:

一線掃描也被稱作一維線掃描技術,這項技術是由俄羅斯科學院核物理研究所發明出來的,目前我國國內生產該DR探測器的非常少。這項產品雖然設備造價和受照劑量方麵都比平板技術要低很多,但是這項技術有著一些先天性的不足:X射線使用效率低、空間分辨率低、成像時間長、成像質量差以及醫生和病體會收到大量輻射。

非晶平板

非晶平板由不同的材料也可以分為兩種類別:a-Se非晶硒層和a-Si非晶矽層

a-Se(非晶硒平板探測器):這是一種直接探測的技術,在硒塗料層直接探測到X光子然後將其電信號轉化成數字信號。目前這種技術應用範圍較少,屬於非主流X光平板探測器。

a-Si(非晶矽平板探測器):這是一種兩步數字轉換的技術,X光子先變成可見光,然後利用光電探測技術探測到,再將其轉化為數字信號。因塗層的技術不同,又可以分為非晶矽+氧化釓平板探測器和非晶矽+碘化銫平板探測器。目前這種技術廣泛應用於世界各大知名廠商中,應用範圍非常廣。

以上就是DR探測器的分類。CCD由於物理方麵的限製,生產工藝和門檻也比較低,已經開始逐漸被淘汰了;一線掃描也由於自身的缺憾很那作為主流產品;非晶體平板有具有的優勢都不是前兩者可以比的,所以目前最為成熟主流的DR探測器就是X光平板探測器。

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